射频导纳物位计是基于射频导纳原理的连续物位测量产品。

是代替电容式物位计测量的必然选择，说起电容式物位计我们先来看看其工作的原理，传统的电容式物位计，随着物位上涨、物料覆盖探头，电路中探头和介质之间的电容值（导电物料场合）或者探头和管壁之间的电容值（绝缘物料场合）随之增加。由于物位的变化导致了电容桥的失衡，所以电容值的变化取决于被测物料的介电常数。然后通过对信号的检波、放大，最后输出相应的信号。

但是，在使用中发现很无奈的一些缺点，特别是当探头有挂料的时候会严重影响测量结果。

而我们的LCM50 射频导纳物位计刚好弥补其缺憾，虽然射频导纳测量技术和电容式测量技术的概念和你想死，但是射频导纳技术在电子元中加入了Driving-Shield电路和斩波电路，因此能够实现阻抗和容抗的单独测量。

而且由挂料产生的影响能够被测量出来并且通过振荡电路的移相，从总的输出中消除，保证了测量精度的精准性。

总的来说，射频导纳技术的测量精度搞，并且不会受到挂了的影响，是目前需求使用很广泛的一种技术，而且其探头测量温度跨度很大，从-100℃到高温800℃；过程压力从真空到6.3MPa强压场合。

重点是没有测量死区，从超短量程到120米超大量程，都能够正常应用，并且能够应用于不同类型的物料。

黏稠性较强、挂料严重的工况，测量起来也毫无压力。

很多测量仪表在测量过程中会受到灰尘、水汽、结晶等的影响，而我们的射频导纳物位计，输出时的稳定性超可靠，耐飞灰、落料、水汽、结晶、结蜡影响。也不需要经常清洁、保养、调试等工作，省时省力。

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